Variabelt optisk dempeledd i Viavis SMART serie. For simulering av tap ved bitfeilanalyse.
- Singelmodus 1260-1650 nm i 1 nm trinn
- Kalibrert ved 1310, 1550 og 1625 nm
- SC/PC tilkopling, enkel utbyttbar FC/PC følger også med
- SmartWheel for presis manuell setting av dempning
- Bakgrunnsbelyst display med samtidig visning av 3 resultater